| １． | 期日：２００３年１月２４日（金）１１：４０～１７：００ |
| ２． | 場所：愛媛大学 工学部 本館（松山市文京町３番）
大会議室（3F, 講演会場），中会議室（2F, ポスターセッション会場） |
| ３．プログラム： |
| 11：40～12：30 | 鉄鋼材料中の溶接熱影響部微細粒化に及ぼす介在物の効果 | | 大石 勝彦（愛媛大理工学研究科） | | 13：30～14：20 | 透過電子顕微鏡法によるⅢ族窒化物半導体結晶の欠陥構造評価 | | 堀渕 嘉代（九大総合理工学研究院） | | 14：30～15：20 | 湿式法によるシリコンウェハ表面の原子レベル制御 | | 坂上 弘之（広大先端物質科学研究科） | | 15：20～15：30 | 総合討論 | | 15：30～17：00 | ポスターセッション：自由な題目でお申込み下さい
（ポスターのサイズ：横１６０cm×縦９０cm） |
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| ４． | ポスターセッション申込み要領：ａ題名､ｂ氏名・所属（発表者に○印）、ｃ連絡先（電話・ＦＡＸ）を明記の上､２００３年１月１７日（金）必着で下記事務局へ |
| ５． | 聴講申込み：氏名・所属・電話を明記の上､２００３年1月２０日（月）必着で下記事務局へ |
| ６. | 参加費：無料 |
| ７. | 問合せ：企画担当者 仲井清眞，小林千悟（愛媛大学 工学部 Tel.０８９－９２７―９８８４,８５２４） |
