| 内容： | 材料の諸特性は巨視的ならびに微視的結晶配向に依存しているため、集合組織測定技術の向上さらにはこれに基づく特性予測(評価)の重要性が増してきている｡一方、変態や析出等の現象に加えて、薄膜、積層構造、マイクロ・パーツ等における微細領域での集合組織の理解が求められるようになってきている｡近年、SEM‐EBSP測定法により、個々の結晶粒あるいは微細領域の結晶方位を大量かつ短時間に測定することが可能になってきた｡本セミナーでは、XRDとEBSPによる集合組織測定法の特徴、さらには、諸特性との相関について解説すると共に、幾つかの材料と組織について実際に測定することによって、集合組織測定・解析の技術向上と特性改善のための一助を与えることを目的として行う｡ |
| 開催日時；２００３年１１月１０日（月） ９：３０ ～ １７：００ |
| プログラム： | | ９：３０ ～ １０：３０ | 【講義】組織や結晶構造、Ｘ線回折、電子線回折の一般論 | | １０：３０ ～ １２：００ | 【講義】集合組織の測定法に関する説明 | | １２：００ ～ １３：００ | 昼 食 | | １３：００ ～ １５：００ | 【実習】EBSPによる実際の測定 | | １５：００ ～ １６：００ | 【実習】測定結果の解析の仕方 | | １６：００ ～ １７：００ | 【講義】組織（集合組織）と材料特性に関する説明 |
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| 講師： | 高杉 隆幸,井上 博史,金野 泰幸（大阪府立大学） |
| 場所： | 大阪府立大学工学部５号館３階中会議室／〒599‐8531堺市学園町１番１号
TEL.０７２‐２５４‐９３１４ FAX.０７２‐２５４‐９９１２
E‐mail:takasugi@mtl.osakafu‐u.ac.jp |
| 募集人員： | １５名程度 |
| 参加費用： | 会員２０,０００円, 非会員２５,０００円, 学生 ５,０００円 |
