| 1.主 催: | 日本金属学会・日本鉄鋼協会東海支部 |
| 2.日 時: | 2007年3月23日(金) 13:30～17:20 |
| 3.場 所: | 名古屋工業大学 2号館3階WY教室
アクセス:参照 http://www.nitech.ac.jp/campus/index.htm |
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| 4.プログラム: |
| 13:30～14:20 | 1.「陽電子で視る材料中の格子欠陥挙動」 |
| 大阪大学 ○荒木秀樹氏、水野正隆氏、白井泰治氏 |
| 14:20～15:10 | 2.「極低加速電圧走査電子顕微鏡(SEM)が拓く材料表面・界面観察の新たな世界」 |
(有)ワイティー・テクノサービス 土谷康夫 氏
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| 15:10～15:30 | コーヒーブレイク |
| 15:30～16:20 | 3.「TOF-SIMSの分析原理とその測定事例」 |
住友金属テクノロジー(株) 薄木 智亮 氏
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| 16:20～17:10 | 4.「3次元電子顕微鏡によるナノ構造の立体観察」 |
名古屋大学 田中 信夫 氏
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| 17:10～17:20 | 総合討論
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| 5.参加費: | 無料 |
| 6.定員: | 70名 |
| 7.参加申込: | 若手材料研究会代表幹事
名古屋工業大学 おもひ領域 牧野 武彦
TEL・FAX:052-735-5367、E-mail: makino.takehiko@nitech.ac.jp |