| 1990年代から普及した走査型電子顕微鏡／後方散乱電子回折解析法（SEM/EBSD）は、現在では非常に重要な解析手法となりました。利用される分野もバルクの組織解析だけでなく多岐にわたるようになりました。この研究会では、SEM/EBSDの使用法に関する最新の話題を提供することを目的としています。多数のご参加をお待ちしています。 |
| １．日 時： | 2011年7月4日（月）13:30 ～ 17:00 | | ２．場 所： | 島根大学松江キャンパス（島根県松江市西川津町1060）
アクセス：島根大学HPの「大学紹介」→「キャンパスへのアクセス[松江キャンパス]」をご覧ください。 | | ３．会 場： | 総合理工学部3号館2階多目的ホール |
| ４．プログラム | | 13:00～13:05 | 趣旨説明 | | 森戸茂一（島根大学） | | 13:05～14:00 | SEM/EBSDを用いた組織の三次元解析 | | 森戸茂一（島根大学） | | 14:00～14:15 | 休憩 | | 14:15～15:15 | 銅薄膜に発生する成長粒子のEBSD解析による微視的繰返し応力測定 | | 小野勇一（鳥取大学） | | 15:15～15:30 | 休憩 | | 15:30～16:30 | 表面改質層の評価におけるEBSDの使用例 | | 村上浩二（岡山県工業 技術センター） | | 16:30～17:00 | 質疑応答 | | 森戸茂一（島根大学） |
| ５．参加申込： | 6月24日（金）必着。なるべくＥ‐mailで，氏名・所属・電話・Ｅ‐mailアドレスを明記して，下記へ申し込み下さい。 | | ６.参加費： | 無料 |
申込、問い合わせ先：
島根大学総合理工学部 森戸茂一
TEL&FAX：0852-32-6398（直通）
e-mail：mosh@riko.shimane-u.ac.jp |
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